Maqolaning nomi | Hammualliflar | Asosiy til | Ko'rishlar | O'qishlar |
---|---|---|---|---|
PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON «Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы» |
Mavlyanov A.S., Urakov A.., Narbayev A.. |
O'zbek | 272 | 183 |