471

  • Internet ҳавола
  • DOI
  • UzSCI тизимида яратилган сана 10-02-2020
  • Ўқишлар сони 0
  • Нашр санаси 26-08-2019
  • Мақола тилиRus
  • Саҳифалар сони
Калит сўзлар
Ўзбек

Приведен анализ погрешностей зондовых преобразователей температуры на основе вероятностных характеристик. Показано, что вероятность появления флуктуационных процессов, т.е.,изменение температуры измеряемой и окружающей среды, некоторые отклонения измерительной системы во время функционирования исследуемых зондовых полупроводниковых преобразователей температуры приведены к минимуму из-за однотипности конструктивных особенностей

English

An analysis of the errors of probe temperature transducers based on probable characteristics is given. It is shown that the probability of occurrence of fluctuation processes during the operation of the investigated probe semiconductor temperature transducers is minimized due to the uniformity of design features

Ҳавола номи
1 Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника
Кутилмоқда