Приведен анализ погрешностей зондовых преобразователей температуры на основе вероятностных характеристик. Показано, что вероятность появления флуктуационных процессов, т.е.,изменение температуры измеряемой и окружающей среды, некоторые отклонения измерительной системы во время функционирования исследуемых зондовых полупроводниковых преобразователей температуры приведены к минимуму из-за однотипности конструктивных особенностей
An analysis of the errors of probe temperature transducers based on probable characteristics is given. It is shown that the probability of occurrence of fluctuation processes during the operation of the investigated probe semiconductor temperature transducers is minimized due to the uniformity of design features
№ | Муаллифнинг исми | Лавозими | Ташкилот номи |
---|---|---|---|
1 | Nasriddinov S.S. | д.т.н, доцент, заместитель директора | НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ |
2 | Egamberdiev B.E. | д.ф.-м.н., профессор | ТАШКЕНТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ ИСЛАМА КАРИМОВА |
3 | Rakhmonov A.T. | д.ф.-м.н., профессор | ТАШКЕНТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ ИСЛАМА КАРИМОВА |
4 | Kuznetsov S.F. | научный сотрудник | ТАШКЕНТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ ИСЛАМА КАРИМОВА |
5 | Oblakulova I.S. | магистр | Национальный университет Узбекистана |
№ | Ҳавола номи |
---|---|
1 | Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника |