logo
calendar18 Avgust 2022
view31
Основной язык:Русский

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПЛЕНОК (BIXSB1-X)2TE3

Область науки:
pdf

file.pdf

PDF

Научный вестник Ферганского государственного университета

Научный вестник Ферганского государственного университета

Опубликовать статьюsee more

АННОТАЦИЯ СТАТЬИ

quote
В работе исследована структура кристаллических фаз системы Вi~Sb-Те,полученных в различных условиях конденсации (скорость конденсации W, температура подложки Тп), приведены результаты расчета межплоскостных расстояний из данных интенсивности дифракционных отражений.

АВТОРЫ

M.Axmedov

Fergana State University

X.Daliyev

Fergana State University

M.Onorkulov

Fergana State University

Теги

# толщина# film# қалинлик# thickness# пленка# дифракция# электронограмма# микродифракция# микродифракции# дифрагированный# electron diffraction pattern# microdiffraction# diffracted

ДРУГИЕ СТАТЬИ ЭТОГО ЖУРНАЛА

Оценить статью

0
оценок: 0
5
4
3
2
1

Идентификаторы статьи

ROI:

https://eroi.uz/11.0106/A0822-0915

DOI:

Недоступно

Список литературы

1. П.Хирли, А.Хови, Р.Никонсон, Д.Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов.- М.:Мир.- 1974.

2. Дж.Каули. Физика дифракции.−М.:Мир.-1979.

3. В.М. Грабов, Е.В. Демидов, В.А. Комаров. ФТТ, 50 (7),1312 (2008).

4. М.М.Стасова, О.Г.Карпинский. О слойности в структурах селенидов и теллуридов висмута и теллуридовсурьмы.//Журнал структурной химии.-1967.-Т.8.-№1.

5. В.А. Комаров, В.М. Грабов, А.В. Суслов, Н.С. Каблукова, М.В. Суслов. Эффекты Холла и Зеебека в тонких пленках висмута на подложке из слюды в диапазоне температур 77−300K. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 5.

6. Онаркулов К.Э., Юлдашев А.А., Азимов Т., Йўлдошқори Ш. //Висмут-сурьма теллуриди юпқа пардаларнинг электрофизик хоссаларига технологик жараённинг таъсири. “ФарДУ. Илмий хабарлар-научный вестник ФерГУ”. -2017. -№2.