7 Dekabr 2019
37Основной язык:Русский
МОДЕРНИЗАЦИЯ ФОТО-ТЕПЛОВОЙ БАТАРЕИ ДЛЯ ПОВЫШЕНИЯ ЭФФЕКТИВНОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ В УСЛОВИЯХ ЖАРКОГО КЛИМАТА
Область науки:
file.pdf
АННОТАЦИЯ СТАТЬИ
Приводятся экспериментальные результаты модернизации фото-тепловой батареи новой конструкции повышенной эффективности с полным тепловым контактом теплового коллектора с тыльной поверхностью фотоэлектрической батареи (ФЭБ). Показано, что применение материалов с большим коэффициентом отражения в боковой плоскости отражения, увеличение точности узла оперативного наведения на Солнце, уменьшение емкости теплового коллектора обеспечивает увеличение мощности и однородности температуры тыльной поверхности ФЭБ, что позволяет повысить эффективность установки.
АВТОРЫ
R.Muminov
НПО “Физика-Солнце” АН РУз
M.Tursunov
K.Sabirov
S.Shokuchkorov
M.Pirimmatov
M.Eshmuradova
Теги
# тепловой контакт# тепловой коллектор# фото-тепловой батареи# отражающие пленки# полимерные и композитные материа# гидрозащита# боковые отражающие плоскости# жаркий климат# the hot climate# thermal contact# a heat collector# photo - thermal batteries# reflective sheeting polymeric an# the hydraulic protection# side reflecting plane
ДРУГИЕ СТАТЬИ ЭТОГО ЖУРНАЛА
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Физика полупроводников и микроэлектроника · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Физика полупроводников и микроэлектроника · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Физика полупроводников и микроэлектроника · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Физика полупроводников и микроэлектроника · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Физика полупроводников и микроэлектроника · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Физика полупроводников и микроэлектроника · 28 Mart 2022
Оценить статью
0
5
4
3
2
1
Идентификаторы статьи
DOI:
Недоступно
Список литературы
Физика полупроводников и микроэлектроника