logo
calendar15 Dekabr 2019
view29
Основной язык:Русский

Анализ математических методов определения информативных параметров, описываемых функцией Гаусса.

Область науки:
pdf

5df60f2f20dd4.pdf

PDF

Kimyoviy texnologiya. Nazorat va boshqaruv

Kimyoviy texnologiya. Nazorat va boshqaruv

Опубликовать статьюsee more

АННОТАЦИЯ СТАТЬИ

quote
Рассматриваются результаты анализа математических методов для определения информативных параметров, описываемых функцией Гаусса. Показано, что в настоящее время нанотехнологии выделяются в самостоятельное научное направление, которое дает новый импульс для развития отраслей экономики. Представлены кривые, характеризующие группу слитых пиков, описываемых функцией Гаусса. На базе полученных результатов анализа математических моделей, определяющих информативные параметры пика, происходит упрощение при построении аппаратных устройств на основе информационных параметров исследуемых пиков.

АВТОРЫ

O.Zaripov

TDTU

G.Abidovaa

TDTU

Теги

# ўта-тоза моддалар# тозалик даражаси# адсорбцион ускуна# чўққининг боши# охири ва экстремуми# особо чистые вещества# степень очистки# адсорбционная установка# начало# конец и экстремум пика# specifically-cleaner material# cleaning degree# adsorption installation# beginning# the end and extreme peak

ДРУГИЕ СТАТЬИ ЭТОГО ЖУРНАЛА

Оценить статью

0
оценок: 0
5
4
3
2
1

Идентификаторы статьи

ROI:

https://eroi.uz/11.0008/A1219-0014

DOI:

Недоступно

Список литературы

1. Dorohova E.N., Prohorova K.V. Analiticheskaya himiya. Fiziko-himicheskie metody'. - M., 2004. 467 s. 2. Mingulina E`.I. Maslennikova G.N. Korovin N.V. Filippov E`.L. Kurs obsch'ey himii. 2-e izd., pererab. i dop. - M.: Vy'ssh. shk., 1990. - 446 s: il. ME`I. 3. Andreev A.V., Gorlov M. I. Osnovy' e`lektroniki i e`lektricheskih processov. - Rostovn/D:Feniks, 2003. - 416 ss. 4. Vy'godskiy M.YA. Spravochnik po vy'sshey matematike - M.:AST:Astrel', 2006. - 991s. 5. Epifanov A. Vy'sshaya matematika. Standartny'e zadachi s osnovami teorii: Uchebnoe posobie KPT/Epifanov - Spbyu: Lan' KPT, 2016.-256 s. 6. Igumnov V.N. Fizicheskie osnovy' mikroe`lektroniki: uchebnoe posobie - M./Berlin:Direkt - Media, 2014.-358 s.:il.