| Maqolaning nomi | Hammualliflar | Asosiy til | Ko'rishlar | O'qishlar |
|---|---|---|---|---|
| PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON «Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы» |
Mavlyanov A.S., Urakov A.., Narbayev A.. |
O'zbek | 479 | 390 |