19 Noyabr 2020
48Asosiy til:Ingliz
APPLICATION OF PHOTOLUMINESCENT ANALYSIS TO CONTROL NANOPOWDERS SINC SELENIDE AND ZINC OXIDE
Fan yo'nalishi:
file.pdf
MAQOLA ANNOTATSIYASI
Представлен метод диагностики порошкообразных веществ на примере нанопорошков селенида цинка и оксида цинка. Метод основан на волоконно-оптической регистрации спектров фотолюминесценции при лазерном ультрафиолетовом (266 нм) возбуждении. Разработанный метод может быть использован для контроля качества большого класса диэлектрических и полупроводниковых структур, люминесцирующих под действием ультрафиолетового излучения
MUALLIFLAR
I.Rakhmatullaev
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
A.Kurbonov
Национальный университет Узбекистана имени Мирзо Улугбека
V.Gorelik
Физический институти им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Teglar
# спектр# spectrum# фотолюминесценция# вторичное излучение# нанопорошок# кювета# secondary radiation# nanopowder# cuvette# : photoluminescence# zinc selenide# селенид цинка
SHU JURNALDAGI BOSHQA MAQOLALAR
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika · 28 Mart 2022
Maqolani baholang
0
5
4
3
2
1
Maqola idintifikatorlari
DOI:
Mavjud emas
Foydalanilgan adabiyotlar
Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника