5dea28e211d36.pdf
DOI:
Mavjud emas
1. Зайнобидинов С., Акромов Х. Яримўтказгичлар параметрларини аниқлаш усуллари.- Т.: Ўзбекис- тон, 2001.- 318 б. 2. Зайнобидинов С., Тешабоев А. Яримўтказгичлар физикаси.- Т.: Ўқитувчи, 1999.- 24 б. 3. Колешко В.М., Каплан Т.Д. С-V методы измерения параметров МОП структуры. Обзоры по элект- ронной технике. Сер.3. Микроэлектроника. вып.2/456/М. ЦНИИ, Электроника, 1977 г. 4. Каримов И.Н. Влияние внешних воздействий на свойства границы раздела полупроводник-диэ- лектрик МДП структур. Дисс... канд.физ.-мат.наук.- Баку, 1986.