logo
calendar18 Avgust 2022
view30
Main language:Russian

ELECTRON DIFFRACTIONAN ALYSIS OF POLYCRYSTALLINE STRAIN-SENSITIVE FILMS (BIXSB1-X) 2TE3

Field of Science:
pdf

file.pdf

PDF

Scientific Reports of Fergana State University

Scientific Reports of Fergana State University

Publish Articlesee more

ARTICLE ANNOTATION

quote
In this work, we studied the structure of the crystalline phases of the Bi ~ Sb-Te system obtained under various condensation conditions (the condensation rate W, the substrate temperature Tn), and the results of calculating interplanar distances from the data of the intensity of diffraction reflections.

AUTHORS

M.Axmedov

Fergana State University

X.Daliyev

Fergana State University

M.Onorkulov

Fergana State University

Tags

# толщина# film# қалинлик# thickness# пленка# дифракция# электронограмма# микродифракция# микродифракции# дифрагированный# electron diffraction pattern# microdiffraction# diffracted

OTHER ARTICLES IN THIS JOURNAL

Rate Article

0
0 ratings
5
4
3
2
1

Article Identifiers

ROI:

https://eroi.uz/11.0106/A0822-0915

DOI:

Not Available

References

1. П.Хирли, А.Хови, Р.Никонсон, Д.Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов.- М.:Мир.- 1974.

2. Дж.Каули. Физика дифракции.−М.:Мир.-1979.

3. В.М. Грабов, Е.В. Демидов, В.А. Комаров. ФТТ, 50 (7),1312 (2008).

4. М.М.Стасова, О.Г.Карпинский. О слойности в структурах селенидов и теллуридов висмута и теллуридовсурьмы.//Журнал структурной химии.-1967.-Т.8.-№1.

5. В.А. Комаров, В.М. Грабов, А.В. Суслов, Н.С. Каблукова, М.В. Суслов. Эффекты Холла и Зеебека в тонких пленках висмута на подложке из слюды в диапазоне температур 77−300K. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 5.

6. Онаркулов К.Э., Юлдашев А.А., Азимов Т., Йўлдошқори Ш. //Висмут-сурьма теллуриди юпқа пардаларнинг электрофизик хоссаларига технологик жараённинг таъсири. “ФарДУ. Илмий хабарлар-научный вестник ФерГУ”. -2017. -№2.