logo
calendar31 Mart 2025
view6
Основной язык:Русский

Применение сканирующей электронной микроскопии с энергодисперсионным анализатором в исследовании поверхности бумаги из различного сырья

Область науки:ХимияИнженерное делоНауки об окружающей среде
pdf

O_TJ.2025.01.22_fce97973.pdf

PDF

“ТЕКСТИЛЬНЫЙ ЖУРНАЛ УЗБЕКИСТАНА” Научно-технический журнал

“ТЕКСТИЛЬНЫЙ ЖУРНАЛ УЗБЕКИСТАНА” Научно-технический журнал

Опубликовать статьюsee more

АННОТАЦИЯ СТАТЬИ

quote
В работе для изучения микрогеометрии поверхности бумаги была использована сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) с энергодисперсионным анализатором. Этот метод позволяет получать микрофотографии с увеличением от 10 до 300 000 крат, а также определять количественный и химический состав микровключений. Были проанализированы четыре типа бумажных образцов с различным составом: макулатурная бумага плотностью 135 г/м² и 180 г/м², экобумага на основе CaCO₃ плотностью 75 г/м² и офсетная бумага плотностью 80 г/м². С помощью сканирующего электронного микроскопа JEOL JSM-IT200 были получены СЭМ-изображения, при этом тонко сфокусированный электронный пучок сканировал поверхность образца, т.е. закрашивает образец точку за точкой. В результате была визуализирована микроструктура поверхности каждого типа бумаги и определён её элементный состав. СЭМ-изображения и результаты энергодисперсионной спектрометрии показали, что углерод, кислород и кальций присутствуют в разных пропорциях в различных типах бумаги, что влияет на их поверхностные свойства и качество печати.. Применение метода сканирующей электронной микроскопии с энергодисперсионным анализатором для экспресс-анализа поверхности бумаги является перспективным, так как появляется возможность прогнозировать перенос краски на поверхность запечатываемого материала и обеспечить стабильное качество печатной продукции при воспроизведении мелких деталей и элементов изображения.

АВТОРЫ

Х.Бабаханова

TOSHKENT TO'QIMACHILIK VA YENGIL SANOAT INSTITUTI

Теги

# поверхность бумаги# микрогеометрия# сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионным анализатором# микрофотографии# химический и количественный состав

ПОХОЖИЕ СТАТЬИ

ДРУГИЕ СТАТЬИ ЭТОГО ЖУРНАЛА

Оценить статью

0
оценок: 0
5
4
3
2
1

Идентификаторы статьи

ROI:

Недоступно

DOI:

Недоступно

Список литературы

B.I.Berezin Poligraficheskoye materialovedeniye // M.: Kniga. 1984. 288 s.

Texnologiya pechatnix prosessov / A. N. Raskin [i dr.]. M.: Kniga, 1989. 301 s.

I.G.Gromiko, A.N.Kudryashova, S.A.Proxorchik, X.A.Babaxanova, Z.K.Galimova Metodi atomno-silovoy mikroskopii i profilometrii v issledovanii fraktalnoy neodnorodnosti zapechativayemix poverxnostey // Trudi BGTU. Seriya 4. №1. 2024. S.5-14.

A. A. Kirsankin Pryamoy metod kontrolya kachestva poverxnosti melovannix vidov bumagi // Ximiya rastitelnogo sirya. 2016. № 4. S. 159–163.

Z. K. Galimova, Kh.A.Babakhanova Direct method of paper surface quality inspection with the addition of secondary raw materials / [et al.] // Textile Journal of Uzbekistan. 2020. No. 3. P. 77–82. DOI: 10.14258/jcprm.2016041415.

M.G.Mixaleva i dr. Atomno-silovaya mikroskopiya – sovremenniy metod opredeleniya sheroxovatosti syellyulozno-bumajnoy produksii // Ximiya i ximicheskaya texnologiya pererabotki rastitelnogo sirya: materiali Mejdunar. nauch.-texn. konf., posvyash. 100-letiyu so dnya rojdeniya professora Reznikova V. M. Minsk, 10–12 okt. 2018 g. Minsk, 2018. S. 126–130.

X.A. Babaxanova i dr. Issledovaniye sheroxovatosti bumagi iz vtorichnogo sirya metodom atomno-silovoy mikroskopii / // Nauchno-texnicheskiy vestnik informasionnix texnologiy, mexaniki i optiki. 2020. T. 20, № 5. S. 661–666.

Jukov M. V. Kontrol strukturi razlichnix vidov bumagi metodom atomno-silovoy mikroskopii // Nauchno-texnicheskiy vestnik informasionnix texnologiy, mexaniki i optiki. 2014. № 1 (89). S. 44–49. DOI: 10.1016/j.snb.2011.09.086.

M.V.Lukashova, A.A.Mokrousov Opit primeneniya skaniruyushyego elektronnogo mikroskopa dlya avtomaticheskogo poiska spesificheskix chastis v obrazsax fetra // Vestnik Moskovskogo universiteta MVD Rossii. 2018. №4. S.74-75.

A.D.Degtyareva, A.A.Gubin, D.A.Artemyev Vozmojnosti ispolzovaniya skaniruyushyey elektronnoy mikroskopii s energodispersionnim analizatorom v izuchenii metalla epoxi bronzi: k postanovke problemi // Vestnik arxeologii, antropologii i etnografii. 2022. №1 (56). S.31-48.

Ravshanov, D.Ch. Tadqiqoti xosiyathoi fiziki va mexanikii qog‘ azhoi shirkati ILIM / Ravshanov D.Ch. Politexnicheskiy vestnik. Seriya: Injenerniye issledovaniya. № 3 (63) 2023. S.69-72. UDK.676.2.416, ISSN 2520-2227

https://tescan.ru/primenenie/akademiya-teskan/korotko-o-sem.

D.A.Polonyankin, A.I.Blesman, D.V.Postnikov, A.A.Teplouxov Teoreticheskiye osnovi rastrovoy elektronnoy mikroskopii i energodispersionnogo analiza nanomaterialov : ucheb. posobiye / Minobrnauki Rossii, OmGTU. – Omsk : Izd-vo OmGTU, 2019. – 116 s.

Michler, G. H. Elektron mikroskopy of polymers / G. H. Michler. – Berlin: Springer Berlin Heidelberg, 2008. – 473 p. – http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540- 36352-1.

https://www.orionica.com/product/skaniruyushchiy-elektronnyy-mikroskop-jeol-jsmit200-intouchscope

https://tescan.ru/primenenie/akademiya-teskan/korotko-o-sem/