| Заглавие | Авторы | Язык статьи | Просмотры | Чтения |
|---|---|---|---|---|
|
ВЛИЯНИЕ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ РОДИЯ И ИРИДИЯ НА ЕМКОСТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-SiО2 СТРУКТУР
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Mansurov X.J., Daliev K.S., Yulchiev S.K. |
Rus | 961 | 0 |
|
ЭЛЕКТРОН КЎРИНИШДАГИ МАЪЛУМОТЛАРДАН ЖИНОЯТ-ПРОЦЕССУАЛ ИСБОТ ҚИЛИШДА ФОЙДАЛАНИШНИНГ УМУМНАЗАРИЙ АСОСЛАРИ
Ҳуқуқийтадқиқотлар электрон журнали |
Khujanazarov A.A. | O'zbek | 961 | 937 |
|
УРУҒЛИК УЧУН ЭКИЛГАН ДАЛАЛАРДА ОҚБОШ КАРАМНИНГ ФОМОЗ КАСАЛЛИГИНИ УЧРАШИ
“Agro kimyo himoya va o‘simliklar karantini” jurnali |
Zuparova D.M., Allayorov A.N. |
O'zbek | 961 | 930 |
|
PRAGMATIC INDICATORS OF THE USE OF THE ENGLISHLANGUAGE IN THE EDUCATIONAL SYSTEM OFUZBEKISTAN
O‘zbekistonda xorijiy tillar |
Rahimov . . | Ingliz | 961 | 960 |
|
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА В НЕУПОРЯДОЧЕННЫХ СЛОЯХ CdTe:Ag ПОЛУЧЕННЫХ НА РАЗНЫХ ПОДЛОЖКАХ
SJFSU |
Rasulov R.Y., Abdullayev E.A., Otadjanov S.M., Oripov U.I. |
Rus | 961 | 0 |
|
“BERUNIY CLUSTER” фаолиятини бошлади
O‘zQSX |
Qazoqov R.. | O'zbek | 960 | 928 |