| Заглавие | CoAuthors | Язык статьи | Просмотры | Чтения |
|---|---|---|---|---|
| PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON «Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы» |
Mavlyanov A.S., Urakov A.., Narbayev A.. |
O'zbek | 478 | 389 |