772
Издатель
Название:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Адрес:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Телефон: +998 71 248 79 94
Электронная почта: ispm_uz@mail.ru
| Название | 2019, Том 1, выпуск 2 | ||
| Журнал | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Номер тома | 1 | ||
| Дата выпуска | 28/04/2019 | ||
| Страницы | 70 | ||
| Номер выпуска в этом году | 2 | ||
| Общее число | 6 | ||
| Файл | |||
В ожидании
| Полное название статьи | Язык | Страницы | Количество просмотров | Количество прочтений |
|---|---|---|---|---|
|
ВЛИЯНИЕ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ВОЛН НА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-ФОТОПРИЕМНИКОВ Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 41-47 | 301 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 48-52 | 149 | 0 |
|
ОСОБЕННОСТИ ДИФФУЗИИ В ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКЕ CoSi2, ВЫРАЩЕННОЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ФЛЮОРИТА Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 53-57 | 505 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 58-64 | 538 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 65-69 | 428 | 0 |