logo
calendar31 Mart 2025
view5
Asosiy til:Rus

Har xil xomashyodan olingan qog'oz yuzasini tadqiq qilishda energodispersiyon analizatorli skanerlovchi elektron mikroskopiyani qo'llash

Fan yo'nalishi:KimyoMuhandislikAtrof-muhit fanlari
pdf

O_TJ.2025.01.22_fce97973.pdf

PDF

“O‘ZBEKISTON TO‘QIMACHILIK JURNALI” Ilmiy-texnikaviy jurnal

“O‘ZBEKISTON TO‘QIMACHILIK JURNALI” Ilmiy-texnikaviy jurnal

Maqola chop etishsee more

MAQOLA ANNOTATSIYASI

quote
Ushbu tadqiqotda qog‘oz yuzasining mikrogeometriyasini o‘rganish uchun energodispersiyon analizatorli skanerlovchi elektron mikroskopiya (SEM) usuli qo‘llanildi. Bu usul 10 dan 300 000 martagacha kattalashtirish diapazonida mikro fotosuratlar olish, shuningdek, mikroqo‘shilmalarning miqdoriy va kimyoviy tarkibini aniqlash imkonini beradi. Tadqiqotda turli tarkibga ega bo‘lgan to‘rtta turdagi qog‘oz namunalari o‘rganildi: 135 g/m² va 180 g/m² zichlikdagi makulatura qog‘ozi, 75 g/m² zichlikdagi ekoqog‘oz (CaCO₃ asosida) va 80 g/m² zichlikdagi ofset qog‘ozi. JEOL JSM-IT200 skanerlovchi elektron mikroskopidan foydalangan holda, SEM tasvirlari hosil qilindi, bunda fokuslangan elektron nurlari namunani nuqta bo‘ylab skaner qilib chiqdi. Natijada, har bir qog‘oz yuzasining mikrostrukturasi vizualizatsiya qilindi va uning tarkibiy elementlari aniqlandi. SEM tasvirlari va energodispersiyon spektrometriya natijalari shuni ko‘rsatdiki, qog‘oz turlari tarkibida uglerod, kislorod va kaltsiy turli nisbatlarda uchraydi, bu esa ularning yuzaviy va bosma sifati xususiyatlariga ta’sir ko‘rsatadi. Energodispersiyon analizatorli skanerlovchi elektron mikroskopiya usulidan foydalanish bosma material yuzasiga bo‘yoqning o‘tishini oldindan baholash va tasvirning mayda detallari hamda elementlarini aniq ifodalashda bosma mahsulot sifatining barqarorligini ta’minlash imkonini beradi.

MUALLIFLAR

Х.Бабаханова

TOSHKENT TO'QIMACHILIK VA YENGIL SANOAT INSTITUTI

Teglar

# qog'oz yuzasi# mikrogeometriya# energodispersiyon analizatorli skanerlovchi elektron mikroskopiya# mikrofotosuratlar# kimyoviy va miqdoriy tarkib

O'XSHASH MAQOLALAR

SHU JURNALDAGI BOSHQA MAQOLALAR

Maqolani baholang

0
0 ta baho
5
4
3
2
1

Maqola idintifikatorlari

ROI:

Mavjud emas

DOI:

Mavjud emas

Foydalanilgan adabiyotlar

D.A.Polonyankin, A.I.Blesman, D.V.Postnikov, A.A.Teplouxov Teoreticheskiye osnovi rastrovoy elektronnoy mikroskopii i energodispersionnogo analiza nanomaterialov : ucheb. posobiye / Minobrnauki Rossii, OmGTU. – Omsk : Izd-vo OmGTU, 2019. – 116 s.

Michler, G. H. Elektron mikroskopy of polymers / G. H. Michler. – Berlin: Springer Berlin Heidelberg, 2008. – 473 p. – http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540- 36352-1.

https://www.orionica.com/product/skaniruyushchiy-elektronnyy-mikroskop-jeol-jsmit200-intouchscope

https://tescan.ru/primenenie/akademiya-teskan/korotko-o-sem/

B.I.Berezin Poligraficheskoye materialovedeniye // M.: Kniga. 1984. 288 s.

Texnologiya pechatnix prosessov / A. N. Raskin [i dr.]. M.: Kniga, 1989. 301 s.

I.G.Gromiko, A.N.Kudryashova, S.A.Proxorchik, X.A.Babaxanova, Z.K.Galimova Metodi atomno-silovoy mikroskopii i profilometrii v issledovanii fraktalnoy neodnorodnosti zapechativayemix poverxnostey // Trudi BGTU. Seriya 4. №1. 2024. S.5-14.

A. A. Kirsankin Pryamoy metod kontrolya kachestva poverxnosti melovannix vidov bumagi // Ximiya rastitelnogo sirya. 2016. № 4. S. 159–163.

Z. K. Galimova, Kh.A.Babakhanova Direct method of paper surface quality inspection with the addition of secondary raw materials / [et al.] // Textile Journal of Uzbekistan. 2020. No. 3. P. 77–82. DOI: 10.14258/jcprm.2016041415.

M.G.Mixaleva i dr. Atomno-silovaya mikroskopiya – sovremenniy metod opredeleniya sheroxovatosti syellyulozno-bumajnoy produksii // Ximiya i ximicheskaya texnologiya pererabotki rastitelnogo sirya: materiali Mejdunar. nauch.-texn. konf., posvyash. 100-letiyu so dnya rojdeniya professora Reznikova V. M. Minsk, 10–12 okt. 2018 g. Minsk, 2018. S. 126–130.

X.A. Babaxanova i dr. Issledovaniye sheroxovatosti bumagi iz vtorichnogo sirya metodom atomno-silovoy mikroskopii / // Nauchno-texnicheskiy vestnik informasionnix texnologiy, mexaniki i optiki. 2020. T. 20, № 5. S. 661–666.

Jukov M. V. Kontrol strukturi razlichnix vidov bumagi metodom atomno-silovoy mikroskopii // Nauchno-texnicheskiy vestnik informasionnix texnologiy, mexaniki i optiki. 2014. № 1 (89). S. 44–49. DOI: 10.1016/j.snb.2011.09.086.

M.V.Lukashova, A.A.Mokrousov Opit primeneniya skaniruyushyego elektronnogo mikroskopa dlya avtomaticheskogo poiska spesificheskix chastis v obrazsax fetra // Vestnik Moskovskogo universiteta MVD Rossii. 2018. №4. S.74-75.

A.D.Degtyareva, A.A.Gubin, D.A.Artemyev Vozmojnosti ispolzovaniya skaniruyushyey elektronnoy mikroskopii s energodispersionnim analizatorom v izuchenii metalla epoxi bronzi: k postanovke problemi // Vestnik arxeologii, antropologii i etnografii. 2022. №1 (56). S.31-48.

Ravshanov, D.Ch. Tadqiqoti xosiyathoi fiziki va mexanikii qog‘ azhoi shirkati ILIM / Ravshanov D.Ch. Politexnicheskiy vestnik. Seriya: Injenerniye issledovaniya. № 3 (63) 2023. S.69-72. UDK.676.2.416, ISSN 2520-2227

https://tescan.ru/primenenie/akademiya-teskan/korotko-o-sem.