571

В работе исследована радиационная стойкость силовых диодов Шоттки Cr-Si  при гамма-облучении. Показана стабильность их параметров в широком диапазоне доз и возможность радиационно-стимулированного управления коэффициентами неидеальности таких диодов

  • Read count 0
  • Date of publication 26-06-2019
  • Main LanguageRus
  • Pages68-75
Русский

В работе исследована радиационная стойкость силовых диодов Шоттки Cr-Si  при гамма-облучении. Показана стабильность их параметров в широком диапазоне доз и возможность радиационно-стимулированного управления коэффициентами неидеальности таких диодов

Русский

The study concerns resistance to gamma-radiation damage of the power Schottky diodes Cr-Si. These diodes demonstrate parameters stability in the wide range of irradiation doses. Also radiation-induced shift of the non-ideality factor n had been revealed

Name of reference
1 Физика полупроводников и микроэлектроника
Waiting