761
Publisher info
Name:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Address:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Phone: +998 71 248 79 94
Email: ispm_uz@mail.ru
| Name | 2019, Том 1, выпуск 2 | ||
| Journal | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Volume Number | 1 | ||
| Published At | 28/04/2019 | ||
| Pages | 70 | ||
| Issue Number | 2 | ||
| Total number | 6 | ||
| File | |||
Waiting
| The full name of the article | Language | Pages | View count | Read count |
|---|---|---|---|---|
|
ВЛИЯНИЕ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ВОЛН НА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-ФОТОПРИЕМНИКОВ Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 41-47 | 299 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 48-52 | 145 | 0 |
|
ОСОБЕННОСТИ ДИФФУЗИИ В ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКЕ CoSi2, ВЫРАЩЕННОЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ФЛЮОРИТА Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 53-57 | 504 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 58-64 | 537 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 65-69 | 423 | 0 |