Бош саҳифа
Журналлар
Муаллифлар
Мақолалар
Янгиликлар
O'zbek
Руский
Инглиз тили
Кириш
DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Бош саҳифа
Мақолалар
DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
208
Журнал номи
Физика полупроводников и микроэлектроника
Нашр номи
2020, том 2, выпуск 4
Кўришлар сони
208
Internet ҳавола
https://uzjournals.edu.uz/semiconductors/vol2/iss4/3/
DOI
UzSCI тизимида яратилган сана
28-03-2022
Ўқишлар сони
0
Нашр санаси
25-08-2020
Мақола тили
Ingliz
Саҳифалар сони
18-21
Калит сўзлар
Аннотациялар
Муаллифлар
Фойдаланилган адабиётлар
Ҳужжатни онлайн кўриш
№
Муаллифнинг исми
Лавозими
Ташкилот номи
1
Zharin A..
scienstist
Belarusian National Technical University
№
Ҳавола номи
Кутилмоқда