Бош саҳифа
Журналлар
Муаллифлар
Мақолалар
Янгиликлар
O'zbek
Руский
Инглиз тили
Кириш
PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Бош саҳифа
Мақолалар
PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
286
Журнал номи
Физика полупроводников и микроэлектроника
Нашр номи
2020, том 2, выпуск 4
Кўришлар сони
286
Internet ҳавола
https://uzjournals.edu.uz/semiconductors/vol2/iss4/4/
DOI
UzSCI тизимида яратилган сана
28-03-2022
Ўқишлар сони
0
Нашр санаси
25-08-2020
Мақола тили
Ingliz
Саҳифалар сони
22-24
Калит сўзлар
Аннотациялар
Муаллифлар
Фойдаланилган адабиётлар
Ҳужжатни онлайн кўриш
№
Муаллифнинг исми
Лавозими
Ташкилот номи
1
Mavlyanov A. .
scienstist
tate Enterprise “ Uzbek Japan Innovation Center of Youth”
№
Ҳавола номи
Кутилмоқда