754
Нашриёт ҳақида маълумот
Номи:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Манзил:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Телефон: +998 71 248 79 94
Электрон почта: ispm_uz@mail.ru
| Номи | 2019, Том 1, выпуск 2 | ||
| Журнал | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Том рақами | 1 | ||
| Нашр этилган сана | 28/04/2019 | ||
| Саҳифалар сони | 70 | ||
| Бу йилдаги нашр тартиб рақами | 2 | ||
| Умумий сони | 6 | ||
| Файл | |||
Кутилмоқда
| Макола тўлиқ номи | Тил | Саҳифа | Кўришлар сони | Ўқишлар сони |
|---|---|---|---|---|
|
ВЛИЯНИЕ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ВОЛН НА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-ФОТОПРИЕМНИКОВ Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 41-47 | 297 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 48-52 | 138 | 0 |
|
ОСОБЕННОСТИ ДИФФУЗИИ В ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКЕ CoSi2, ВЫРАЩЕННОЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ФЛЮОРИТА Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 53-57 | 501 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 58-64 | 532 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 65-69 | 418 | 0 |