С помощью фото-ВАХ мишени видикона исследованы плёнки
аморфного гидрированного кремния. В фото-ВАХе наблюдается участок, который
подчиняется квадратичному закону. Объяснено, что существенным является вклад
изменения диэлектрической проницаемости a-Si:H и время жизни дырок в зависимости от
приложенного напряжения в получение информации из этого участка о механизме переноса
дырок
С помощью фото-ВАХ мишени видикона исследованы плёнки
аморфного гидрированного кремния. В фото-ВАХе наблюдается участок, который
подчиняется квадратичному закону. Объяснено, что существенным является вклад
изменения диэлектрической проницаемости a-Si:H и время жизни дырок в зависимости от
приложенного напряжения в получение информации из этого участка о механизме переноса
дырок
In this manuscript, films of amorphous hydrogenated silicon were studied by
using the photo-VACH characteristics of the vidicon target. In the photo-VACH characteristic, a
region is observed that obeys the quadratic law. It is explained that the contribution of changes in
the dielectric constant of a-Si:H and the hole lifetime depending on the applied voltage for obtaining
information from this section about the hole transportation mechanism is too significant.
Ushbu maqolada Vidikon nishonining foto-VAX xususiyatlaridan
foydalanib, gidrogenlangan amorf kremniyning yupqa qatlamlari o'rganilgan. Volt-Amper
Xarakteristikasida kvadrat qonuniga bo'ysunadigan hudud kuzatilgan. a-Si:H qatlamlarining
dielektrik singdiruvchanligi o'zgarishi va qo'llaniladigan kuchlanishga bog'liq holda kovaklarning
harakatlanish mexanizmi haqida muhim ma'lumotlar keltirilgan.
№ | Имя автора | Должность | Наименование организации |
---|---|---|---|
1 | Nabiyev A.B. |
№ | Название ссылки |
---|---|
1 | V. P. Afanasev, E. I. Terukov, A. A. SHerchenkov. Tonkoplenochnie solnechnie elementi na osnove kremniya. 2-e izd., C.-Peterburg: SPbGETU «LETI», 2011. |
2 | YU.V. Kryuchenko, A.V. Sachenko, A.V. Bobil, V.P. Kostilev, E.I. Terukov, A.S. Abramov, V.N. Verbitskiy, S.A. Kudryashov, K.V.Emsev, I.O.Sokolovskiy. FTP, 2015,tom 49, vip.5, s. 697-706. |
3 | S.V. Kuznetsov. FTP, 2000,tom 34, vip.6, s. 748-752. |
4 | Y. Xamakavi. Amorfnie poluprovodniki i pribori na ix osnove. Moscow, Metallurgy, 1986, p.375 |
5 | Crandall R.–Appl. Phys., Lett., 37 (1980) 607. |
6 | Mort J. et al. - Appl. Phys., Letta, 38 (1981) 277. |
7 | Yu. V. Kryuchenko, A. V. Sachenko, A. V. Bobyl, V. P. Kostyiyov, P. N. Romanets, I. O. Sokolovskyi, E. I. Terukov. Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2012. V. 15, N 2. P. 91-116 S. Zaynobidinov, U. Babakhodzhayev, A. Nabiyev. Journal of Scientific and Engineering Research, 2019, 6(2):252-255. |