Главная
Журналы
Авторы
Статьи
Новости
Русский
O'zbek
Англиский
Авторизоваться
DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Главная
Статьи
DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
310
Название журнала
Физика полупроводников и микроэлектроника
Номер выпуска
2020, том 2, выпуск 4
Количество просмотров
310
Ссылка в интернете
https://uzjournals.edu.uz/semiconductors/vol2/iss4/3/
DOI
Дата создание в систему UzSCI
28-03-2022
Количество прочтений
0
Дата публикации
25-08-2020
Язык статьи
Ingliz
Страницы
18-21
Ключевые слова
Аннотации
Авторы
Список литературы
Просмотреть документ онлайн
№
Имя автора
Должность
Наименование организации
1
Zharin A..
scienstist
Belarusian National Technical University
№
Название ссылки
В ожидании