Home
Главная
Журналы
Авторы
Статьи
Новости
Свяжитесь с нами
Русский
O'zbek
Англиский
Учетная запись
Авторизоваться
Зарегистрироваться
DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Главная
Статьи
DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
178
Название журнала
Физика полупроводников и микроэлектроника
Номер выпуска
2020, том 2, выпуск 4
Количество просмотров
178
Ссылка в интернете
https://uzjournals.edu.uz/semiconductors/vol2/iss4/3/
DOI
Дата создание в систему UzSCI
28-03-2022
Количество прочтений
0
Дата публикации
25-08-2020
Язык статьи
Ingliz
Страницы
18-21
Ключевые слова
Аннотации
Авторы
Список литературы
Просмотреть документ онлайн
№
Имя автора
Должность
Наименование организации
1
Zharin A..
scienstist
Belarusian National Technical University
№
Название ссылки
В ожидании