PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON

202

Название журналаФизика полупроводников и микроэлектроника
Номер выпуска2020, том 2, выпуск 4
Количество просмотров202

Ссылка в интернете https://uzjournals.edu.uz/semiconductors/vol2/iss4/4/

DOI

Дата создание в систему UzSCI28-03-2022

Количество прочтений0

Дата публикации25-08-2020

Язык статьиIngliz

Страницы22-24

Ключевые слова

№ Имя автора Должность Наименование организации

1 Mavlyanov A. . scienstist tate Enterprise “ Uzbek Japan Innovation Center of Youth”

№ Название ссылки

В ожидании