759
Издатель
Название:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Адрес:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Телефон: +998 71 248 79 94
Электронная почта: ispm_uz@mail.ru
| Название | 2020, том 2, выпуск 3 | ||
| Журнал | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Номер тома | 2 | ||
| Дата выпуска | 25/06/2020 | ||
| Страницы | 70 | ||
| Номер выпуска в этом году | 3 | ||
| Общее число | 6 | ||
| Файл | |||
| Полное название статьи | Язык | Страницы | Количество просмотров | Количество прочтений |
|---|---|---|---|---|
|
MULTICHANNEL OPTICAL SPECTRUM RECORDER FOR MICROELEMENTS DETERMINATION Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 27-31 | 67 | 0 |
|
HUMIDITY SENSORS BASED ON COMPOSITE MATERIAL WITH NANO-DIMENSIONAL STRUCTURES Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 32-35 | 227 | 0 |
|
NEW SCIENTIFIC DIRECTION OF SEMICONDUCTOR PHYSICS: NATURAL SEMICONDUCTORS Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 36-39 | 182 | 0 |
|
DEFECT STRUCTURE OF SILICON WITH AN IMPURITY OF TUNGSTEN UNDER THE INFLUENCE OF EXTERNAL FACTORS Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 40-42 | 262 | 0 |
|
TECHNOLOGICAL FEATURES OF OBTAINING STRENGTH SENSITIVE POLYCRYSTALLINE FILMS Bi2-XSbXTe3 Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 43-45 | 123 | 0 |