|
ВЛИЯНИЕ ТЕРМООБРАБОТКИ НА ПОВЕДЕНИЕ ГЛУБОКИХ УРОВНЕЙ В КРЕМНИИ, ЛЕГИРОВАННОМ ВОЛЬФРАМОМ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev S.K.,
Nasriddinov S.S.,
Paluanova A.D. |
Rus |
527 |
|
|
СПОСОБ ГЕРМЕТИЗАЦИИ ДАТЧИКОВ ТЕМПЕРАТУРЫ С НАНОКЛАСТЕРАМИ НИКЕЛЯ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Nasriddinov S.S.,
Usmanova S.P.,
Ismailov K.A. |
Rus |
549 |
|
|
АНАЛИЗ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОГРЕШНОСТЕЙ НА ОСНОВЕ ВЕРОЯТНОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ЗОНДОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ТЕМПЕРАТУРЫ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Nasriddinov S.S.,
Egamberdiev B.E.,
Rakhmonov A.T.,
Kuznetsov S.F.,
Oblakulova I.S. |
Rus |
471 |
|
|
ЗАРЯДОВОЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ИОНОВ Si, ЭМИТИРУЕМЫХ МОНОЭЛЕМЕНТНОЙ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМОЙ, ДО И ПОСЛЕ γ- ОБЛУЧЕНИЯ МИШЕНИ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Azamatov Z.T.,
Nasriddinov S.S.,
Satiboldiev T.B.,
Tojinazarov F.M.,
Kodirov S.R. |
Rus |
425 |
|
|
КРИТЕРИИ ПОЛУЧЕНИЯ КОМПЕНСИРОВАННОГО НИКЕЛЕМ КРЕМНИЯ
«Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы»
|
Nasriddinov S.S.,
Ismailov S..,
Esbergenov D..,
Mannonov M.. |
O'zbek |
368 |
266 |
|
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ ПОЛУЧЕНИЯ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК Bi2-ХSbХTe3
«Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы»
|
Nasriddinov S.S.,
Onarqulov M.K.,
Yuldashev S.A. |
Rus |
340 |
230 |
|
ИССЛЕДОВАНИЕ ИОНИЗАЦИОННЫХ ПРОЦЕССОВ В ДВУХЭЛЕМЕНТНОЙ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЕ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Nasriddinov S.S. |
Rus |
262 |
|
|
ФОРМИРОВАНИЕ И СВОЙСТВА ПЛЕНКИ СИЛИЦИДА РУБИДИЯ ПОЛУЧЕННОЙ НИЗКОЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИЕЙ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Nasriddinov S.S. |
Rus |
238 |
|
|
CRITERIA FOR OBTAINING COMPENSATED NICKEL SILICON
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Nasriddinov S.S. |
Ingliz |
254 |
|
