748
Nashriyot haqida ma'lumot
Nomi:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Manzil:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Telefon: +998 71 248 79 94
Elektron pochta: ispm_uz@mail.ru
| Nomi | 2020, том 2, выпуск 4 | ||
| Jurnal | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Tom raqami | 2 | ||
| Nashr etilgan sana | 25/08/2020 | ||
| Sahifalar | 69 | ||
| Bu yil bo'yicha nashr raqami | 4 | ||
| Umumiy soni | 6 | ||
| Fayl | |||
| Maqolaning to'liq nomi | Til | Sahifa | Ko'rishlar soni | O'qishlar soni |
|---|---|---|---|---|
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 29-32 | 223 | 0 |
|
THE INFLUENCE OF THE MICROWAVE FIELD ON THE CHARACTERISTICS OF THE p-n JUNCTION Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 33-36 | 237 | 0 |
|
COMPACT SPECKLE INTERFEROMETER FOR DIGITAL SHEAROGRAPHY Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 37-40 | 293 | 0 |
|
NEW ENERGY AND RESOURCE SAVING TECHNOLOGIES FOR PRODUCING SILICON AND ITS ALLOYS Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 41-44 | 225 | 0 |
|
CRITERIA FOR OBTAINING COMPENSATED NICKEL SILICON Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 45-47 | 299 | 0 |