Nomi | 2019, Том 1, выпуск 2 | ||
Jurnal | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
Tom raqami | 1 | ||
Nashr etilgan sana | 28/04/2019 | ||
Sahifalar | 70 | ||
Bu yil bo'yicha nashr raqami | 2 | ||
Umumiy soni | 6 | ||
Fayl |
Maqolaning to'liq nomi | Til | Sahifa | Ko'rishlar soni | O'qishlar soni |
---|---|---|---|---|
ВЛИЯНИЕ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ РОДИЯ И ИРИДИЯ НА ЕМКОСТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-SiО2 СТРУКТУР Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 10-15 | 697 | 0 |
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 16-21 | 578 | 0 |
СПОСОБ ГЕРМЕТИЗАЦИИ ДАТЧИКОВ ТЕМПЕРАТУРЫ С НАНОКЛАСТЕРАМИ НИКЕЛЯ Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 22-26 | 621 | 0 |
ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕСВОЙСТВАМНОГОСЛОЙНЫХФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХСТРУКТУРСБАРЬЕРАМИМЕТАЛЛ-ПОЛУПРОВОДНИК Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 27-35 | 648 | 0 |
КАСКОДНЫЙ ИНЖЕКЦИОННО-ВОЛЬТАИЧЕСКИЙ ТРАНЗИСТОР Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 36-40 | 541 | 0 |