28 Oktabr 2020
61Main language:English
DIGITAL HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY IN PHYSICAL MEASUREMENTS
Field of Science:
file.pdf
ARTICLE ANNOTATION
Показана возможность использования цифровых голографических интерферограмм. Интерферограммы полученны с использованием лазерного излучения на разных длинах волн и разной длительности в разные моменты времени, для реконструкции динамических фазовых изменений. Зарегистрированные фазовые неоднородности совпадают с расчетными.
AUTHORS
M.Bekchanova
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
Z.Azamatov
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
N.Bazarbayev
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
M.Yuldoshev
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
Tags
# digital holographic interferomet# interferogram# nonlinear optical and photorefra# цифровая голографическая интерфе# интерферограмма# нелинейная оптика и фоторефракти
OTHER ARTICLES IN THIS JOURNAL
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
Rate Article
0
5
4
3
2
1
Article Identifiers
DOI:
Not Available
References
Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника