19 Noyabr 2020
49Main language:English
APPLICATION OF PHOTOLUMINESCENT ANALYSIS TO CONTROL NANOPOWDERS SINC SELENIDE AND ZINC OXIDE
Field of Science:
file.pdf
ARTICLE ANNOTATION
Представлен метод диагностики порошкообразных веществ на примере нанопорошков селенида цинка и оксида цинка. Метод основан на волоконно-оптической регистрации спектров фотолюминесценции при лазерном ультрафиолетовом (266 нм) возбуждении. Разработанный метод может быть использован для контроля качества большого класса диэлектрических и полупроводниковых структур, люминесцирующих под действием ультрафиолетового излучения
AUTHORS
I.Rakhmatullaev
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
A.Kurbonov
Национальный университет Узбекистана имени Мирзо Улугбека
V.Gorelik
Физический институти им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
Tags
# спектр# spectrum# фотолюминесценция# вторичное излучение# нанопорошок# кювета# secondary radiation# nanopowder# cuvette# : photoluminescence# zinc selenide# селенид цинка
OTHER ARTICLES IN THIS JOURNAL
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
Rate Article
0
5
4
3
2
1
Article Identifiers
DOI:
Not Available
References
Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника