19 Noyabr 2020
41Main language:English
EFFECT OF TEMPERATURE ANNEALING ON THE EFFICIENCY OF NICKEL-DOPED SILICON SOLAR CELLS
Field of Science:
file.pdf
ARTICLE ANNOTATION
Диффузионным способом легирования получены структуры Si и Si с глубоким p–n-переходом (30 мкм). Показано, что параметры кремниевых фотоэлементов с глубокозалегающим p–n-переходом улучшаются за счет легирования никелем. Исследовано влияние дополнительного температурного отжига при разных температурах образцов на формирование кластеров атомов никеля в решетке кремния и определены оптимальные условия для кластерообразования
AUTHORS
H.Iliev
ТАШКЕНТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ ИСЛАМА КАРИМОВА
Z.Kenjaev
Каракалпакского Государственного Университета им. Бердаха
B.Isakov
ТАШКЕНТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ ИСЛАМА КАРИМОВА
N.Narkulov
Национальный университет Узбекистана имени Мирзо Улугбека
Tags
# silicon# кремний# время жизни# lifetime# solar cell efficiency# Nickel doping# Nickel clusters# temperature annealing# gettering# эффективность фотоэлемента# легирование никелем# кластеры никеля# температурный отжиг# геттерирование
OTHER ARTICLES IN THIS JOURNAL
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
Rate Article
0
5
4
3
2
1
Article Identifiers
DOI:
Not Available
References
Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника