7 Dekabr 2019
37Main language:Russian
ИЗМЕРИТЕЛЬ ОПТИЧЕСКОЙ МОЩНОСТИ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ОПТОВОЛОКОННЫХ ЛИНИЙ СВЯЗИ И ЦИФРОВОЙ МУЛЬТИМЕТР
Field of Science:
file.pdf
ARTICLE ANNOTATION
В настоящей статье предложен многофункциональный измеритель затухания оптической мощности в оптоволоконных кабелях для широкого применения. Особенностью данного измерителя является возможность диагностики механических повреждений оптоволоконных линий связи и определения степени затухания сигнала в волоконно-оптическом тракте спектральных диапазонах 1270-1340 нм; 1520-1580 нм, а также измерение напряжения, тока и сопротивления в электрических цепях. Обоснованная возможность применения измерителя для диагностики бортовых оптоволоконных линий связи
AUTHORS
F.Giyasova
НПО “Физика-Солнце” АН РУз
R.Zakirov
Tags
# test# distortion# тестирование# оптоволоконные системы связи# искажения# Fiber-optic communication system
OTHER ARTICLES IN THIS JOURNAL
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
Rate Article
0
5
4
3
2
1
Article Identifiers
DOI:
Not Available
References
Физика полупроводников и микроэлектроника