7 Dekabr 2019
41Main language:Russian
СПЕКТРЫ ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ В ПОРОШКАХ ОКСИДА ЦИНКА ПРИ ЛАЗЕРНОМ ВОЗБУЖДЕНИИ
Field of Science:
file.pdf
ARTICLE ANNOTATION
Предложен оригинальный чувствительный метод исследования нанопорошков, основанный на использовании лазерного возбуждения и многоканального спектрометра. Разработанный метод может быть использован для диагностики широкого класса порошкообразных сред на основе лазерной спектроскопии вторичного излучения.
AUTHORS
I.Rakhmatullaev
НИИ физики полупроводников и микроэлектроники при НУУЗ
V.Gorelik
A.Kurbonov
Tags
# метод# method# спектр# лазер# spectrum# фотолюминесценция# вторичное излучение# нанопорошок# конденсированная среда# наноструктура# кювета# nanostructure# photoluminescence# secondary radiation# nanopowder# laser# condensed matter# cuvette
OTHER ARTICLES IN THIS JOURNAL
- DETERMINING THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS AND IRON IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES WITH SUBMICRON LAYERS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- THE POSITIVE FEEDBACK AMPLIFICATION MECHANISM OF THE INJECTION PHOTODIODE BASED ON LARGE-BLOCK CdTe FILMS
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
- STRUCTURAL FEATURES OF THE THIN-FILM N-ZnO/P-Si HETEROJUNCTION
Semiconductor Physics and Microelectronics · 28 Mart 2022
Rate Article
0
5
4
3
2
1
Article Identifiers
DOI:
Not Available
References
Физика полупроводников и микроэлектроника