341

  • Name of journal
  • Number of edition
  • View count 341
  • Web Address
  • DOI
  • Date of creation in the UzSCI system 21-08-2020
  • Read count 239
  • Date of publication
  • Main LanguageO'zbek
  • Pages62-66
Tags
Русский

Исследовано влияние импульсного внешнего всестороннего давления на ВАХ поверхностно – барьерных диодных структур. Показано, что при адиабатическом режиме воздействии ВГС выделяемая теплота приводит к кратковременному нагреву диода, в результате чего наблюдается релаксация тока, коррелирующая с изменением температуры. Вклад температуры в изменение тока уменьшается с ростом приложенного прямого напряжения.

English

The effect of pulsed external all-round pressure on the I–V characteristics of surface-barrier diode structures is investigated. It is shown that under the adiabatic regime of exposure to HCV, the generated heat leads to short-term heating of the diode, as a result of which current relaxation is observed, which correlates with a change in temperature. The contribution of temperature to the change in current decreases with increasing applied forward voltage.

Author name position Name of organisation
1 Mamatkarimov O.O.
2 Khimmatkulov O..
3 Tursunov I..
Name of reference
1 Zajnabidinov S.Z., Tursunov I.G., Himmatkulov O. Uzbek Journal of Physics. Vol.20 (№1), pp.32-36, 2018.
2 S. Zainabidinov, I. G. Tursunov, and O. Khimmatkulov. Semiconductors, 2018, Vol. 52, No. 8, pp. 1027–1030.
3 O.Mamatkarimov, I.G.Tursunov, and O. Khimmatkulov. Semiconductors, 2020, Vol. 54, No.5, pp. 563–566.
Waiting