523

  • Web Address
  • DOI
  • Date of creation in the UzSCI system 10-02-2020
  • Read count 0
  • Date of publication 26-08-2019
  • Main LanguageRus
  • Pages
Tags
Ўзбек

Приведен анализ погрешностей зондовых преобразователей температуры на основе вероятностных характеристик. Показано, что вероятность появления флуктуационных процессов, т.е.,изменение температуры измеряемой и окружающей среды, некоторые отклонения измерительной системы во время функционирования исследуемых зондовых полупроводниковых преобразователей температуры приведены к минимуму из-за однотипности конструктивных особенностей

English

An analysis of the errors of probe temperature transducers based on probable characteristics is given. It is shown that the probability of occurrence of fluctuation processes during the operation of the investigated probe semiconductor temperature transducers is minimized due to the uniformity of design features

Name of reference
1 Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника
Waiting