772
Nashriyot haqida ma'lumot
Nomi:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Manzil:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Telefon: +998 71 248 79 94
Elektron pochta: ispm_uz@mail.ru
| Nomi | 2020, том 2, выпуск 3 | ||
| Jurnal | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Tom raqami | 2 | ||
| Nashr etilgan sana | 25/06/2020 | ||
| Sahifalar | 70 | ||
| Bu yil bo'yicha nashr raqami | 3 | ||
| Umumiy soni | 6 | ||
| Fayl | |||
| Maqolaning to'liq nomi | Til | Sahifa | Ko'rishlar soni | O'qishlar soni |
|---|---|---|---|---|
|
MULTICHANNEL OPTICAL SPECTRUM RECORDER FOR MICROELEMENTS DETERMINATION Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 27-31 | 70 | 0 |
|
HUMIDITY SENSORS BASED ON COMPOSITE MATERIAL WITH NANO-DIMENSIONAL STRUCTURES Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 32-35 | 232 | 0 |
|
NEW SCIENTIFIC DIRECTION OF SEMICONDUCTOR PHYSICS: NATURAL SEMICONDUCTORS Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 36-39 | 187 | 0 |
|
DEFECT STRUCTURE OF SILICON WITH AN IMPURITY OF TUNGSTEN UNDER THE INFLUENCE OF EXTERNAL FACTORS Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 40-42 | 266 | 0 |
|
TECHNOLOGICAL FEATURES OF OBTAINING STRENGTH SENSITIVE POLYCRYSTALLINE FILMS Bi2-XSbXTe3 Физика полупроводников и микроэлектроника |
Ingliz | 43-45 | 124 | 0 |