887
Nashriyot haqida ma'lumot
Nomi:OʻzMU huzuridagi Yarimoʻtkazgichlar fizikasi va mikroelektronika ITI
Manzil:100057, Toshkent sh., Olmazor tum., Yangi Olmazor koʻchasi, 20 uy.
Telefon: +998 71 248 79 94
Elektron pochta: ispm_uz@mail.ru
| Nomi | 2019, Том 1, выпуск 2 | ||
| Jurnal | Физика полупроводников и микроэлектроника | ||
| Tom raqami | 1 | ||
| Nashr etilgan sana | 28/04/2019 | ||
| Sahifalar | 70 | ||
| Bu yil bo'yicha nashr raqami | 2 | ||
| Umumiy soni | 6 | ||
| Fayl | |||
Kutilmoqda
| Maqolaning to'liq nomi | Til | Sahifa | Ko'rishlar soni | O'qishlar soni |
|---|---|---|---|---|
|
ВЛИЯНИЕ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ВОЛН НА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-ФОТОПРИЕМНИКОВ Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 41-47 | 358 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 48-52 | 196 | 0 |
|
ОСОБЕННОСТИ ДИФФУЗИИ В ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКЕ CoSi2, ВЫРАЩЕННОЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ФЛЮОРИТА Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 53-57 | 564 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 58-64 | 631 | 0 |
|
Физика полупроводников и микроэлектроника |
Rus | 65-69 | 510 | 0 |