Мазкур мақолада вакуумда буғлатиб олинган Bi, Sb ва Te аралашмалари асосида тип
яримўтказгич юпқа пардалар электрофизик хусусиятларининг таглик ҳароратига боғлиқлиги ўрганилган.
Мазкур мақолада вакуумда буғлатиб олинган Bi, Sb ва Te аралашмалари асосида тип
яримўтказгич юпқа пардалар электрофизик хусусиятларининг таглик ҳароратига боғлиқлиги ўрганилган.
В статье исследована зависимость электрофизических свойств полупроводниковых тонких пленок
типа на основе Bi, Sb и Te от температуры подложек.
In this article dependence electrophysical characters of P-type semiconductor fine films on base of the
admixtures Bi, Sb and Te from the temperature substrate is explored.
№ | Author name | position | Name of organisation |
---|---|---|---|
1 | Azimov T.. | 3 | Ferghana State University |
2 | Onarqulov K.. | 1 | Ferghana State University |
3 | Yuldashev A.. | 2 | Ferghana State University |
4 | Yo'ldosh qori S.. | 4 | Ferghana State University |
№ | Name of reference |
---|---|
1 | Гольцман Б.М., Кудинов В.А., Смирнов И.А. Полупроводниковые термоэлектрические материалы на основе Bi2Te3. – М.: Наука, 1972. |
2 | Абдуллаев Э.А., Юлдашев Н.Х. Эффект пьезосопротивления в халькогенидах свинца и висмута. – Т.: Фан, 1989. |
3 | Абдуллаев Э.А., Ахмедов М.М., Онаркулов К.Э. Влияние состава и структуры на свойства пленок (Bi1-x Sbx)Te3. // Узбекский физический журнал. – 1995,№ 4. |