470

Приводится анализ результатов исследований физических свойств металл-диэлектрик полупроводниковых (МДП) структур типа Al-SiО2-Si. Отмечено, что в таких структурах, полученных методом термического окисления основным, определяющим параметров МДП-структур являются поверхностные состояния (ПС) на границе раздела Si-SiО2. Облучение γ-квантами МДП–структур приводит к увеличению Nss и Dss а также изменению распределения их по энергии в запрещенной зоне Si. Из анализа исследований структуры твердых растворов на основе кремния и гетероструктур электрофизическими, фотоэлектрическими, рентгенструктурными и сканирующими зондовыми микроскопическими методами, установлены структурные особенности и определены возможности создания новых многослойных электронных изделий с уникальными функциями.

  • Internet havola
  • DOI
  • UzSCI tizimida yaratilgan sana28-10-2020
  • O'qishlar soni0
  • Nashr sanasi27-10-2020
  • Asosiy tilRus
  • Sahifalar9-27
Русский

Приводится анализ результатов исследований физических свойств металл-диэлектрик полупроводниковых (МДП) структур типа Al-SiО2-Si. Отмечено, что в таких структурах, полученных методом термического окисления основным, определяющим параметров МДП-структур являются поверхностные состояния (ПС) на границе раздела Si-SiО2. Облучение γ-квантами МДП–структур приводит к увеличению Nss и Dss а также изменению распределения их по энергии в запрещенной зоне Si. Из анализа исследований структуры твердых растворов на основе кремния и гетероструктур электрофизическими, фотоэлектрическими, рентгенструктурными и сканирующими зондовыми микроскопическими методами, установлены структурные особенности и определены возможности создания новых многослойных электронных изделий с уникальными функциями.

English

The analysis of the study’s results of the physical properties of metal-insulator-semiconductor (MIS) structures of the Al-SiO2-Si type is presented. It is noted in such structures obtained by the method of thermal oxidation, the main determining parameters of MIS structures are surface states (SS) at the Si-SiO2 interface. The irradiation with γ-quanta of MIS structures leads to an increase in Nss and Dss and, also to a change in their energy distribution in the Si band gap. Studies of the structure of silicon-based solid solutions and heterostructures by electro-physical, photoelectric, X-ray structural and scanning probe microscopic methods have established structural features and determined the possibility of creating new multilayer electronic products with unique functions.

Havola nomi
1 Яримўтказгичлар физикаси ва микроэлектроника
Kutilmoqda