|
ЕМКОСТНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИ, ЛЕГИРОВАННОМ АТОМАМИ ГАДОЛИНИЯ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev K.S.,
Erguliev U.K.,
Norkulov S.B.,
Ergashev J.A. |
Rus |
677 |
|
|
ВЛИЯНИЕ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ РОДИЯ И ИРИДИЯ НА ЕМКОСТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-SiО2 СТРУКТУР
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Mansurov X.J.,
Daliev K.S.,
Yulchiev S.K. |
Rus |
598 |
|
|
К ТЕОРИИ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ В ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ МНОГОСЛОЙНОЙ СТРУКТУРЕ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Akhmedov B..,
Daliev K.S.,
Rasulov V.R. |
Rus |
525 |
|
|
НЕРАВНОВЕСНЫЕ ПРОЦЕССЫ НА КОНТАКТЕ ПОЛУПРОВОДНИК – ПЛАЗМА ГАЗОВОГО РАЗРЯДА
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev K.S.,
Khaydarov Z..,
Yuldashev N.K.,
Yuldashev K.T. |
Rus |
513 |
|
|
ВЛИЯНИЕ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ НА СВОЙСТВА ОБЛУЧЕННЫХ КРЕМНИЕВЫХ МДП-СТРУКТУР
«Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы»
|
Daliev K.S.,
Khusanov Z..,
Allayarov A..,
Erugliyev U.. |
Rus |
396 |
308 |
|
ИССЛЕДОВАНИЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ГАЗОРАЗРЯДНОЙ ЯЧЕЙКИ С ФОТОЭЛЕКТРОДАМИ НА ОСНОВЕ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ И КРЕМНИЯ С ПЛАЗМЕННЫМИ КОНТАКТАМИ
«Современные тенденции развития физики полупроводников: достижения, проблемы и перспективы»
|
Daliev K.S.,
Utamuradova S.B.,
Khaidarov Z.. |
Rus |
488 |
383 |
|
СОСТОЯНИЕ ИССЛЕДОВАНИЙ И ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МНОГОСЛОЙНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР НА ОСНОВЕ Si (Обзор)
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev K.S.,
Yulchiev S.K. |
Rus |
548 |
|
|
РАДИАЦИОННОЕ И ТЕРМИЧЕСКОЕ ДЕФЕКТООБРАЗОВАНИЕ В КРЕМНИЕВЫХ МДП-СТРУКТУРАХ С ПРИМЕСЯМИ ТУГОПЛАВКИХ ЭЛЕМЕНТОВ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev K.S.,
Daliev S.K.,
Paluanova A.D.,
Khusanov Z.. |
Rus |
492 |
|
|
ВЛИЯНИЕ ЛЕГИРУЮЩИХ ПРИМЕСЕЙ НА МЕХАНИЧЕСКИЕ И ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ОХЛАЖДАЮЩИХ ТЕРМОЭЛЕМЕНТОВ НА ОСНОВЕ ХАЛЬКОГЕНИДОВ ВИСМУТА И СУРЬМЫ
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev K.S. |
Rus |
367 |
|
|
THE INFLUENCE OF EXTERNAL FACTORS ON PROPERTIES OF IRRADIATED SILICON MIS STRUCTURES
Физика полупроводников и микроэлектроника
|
Daliev K.S. |
Ingliz |
384 |
|
