logo
Semiconductor Physics and Microelectronics
Journal
Semiconductor Physics and Microelectronics
Go to journal
Issue cover

2019, Том 1, выпуск 2

Published date
27 Aprel 2019
Volume
1
Issue
№2
ISSN
2181-9947

Related articles

Total: 10 items
1

КАСКОДНЫЙ ИНЖЕКЦИОННО-ВОЛЬТАИЧЕСКИЙ ТРАНЗИСТОР

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0022
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view41
2

МОДЕРНИЗАЦИЯ ФОТО-ТЕПЛОВОЙ БАТАРЕИ ДЛЯ ПОВЫШЕНИЯ ЭФФЕКТИВНОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ В УСЛОВИЯХ ЖАРКОГО КЛИМАТА

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0026
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view34
3

СТАБИЛИЗИРУЮЩЕЕ ДЕЙСТВИЕ ЦИТРАТА НАТРИЯ ПРИ ПОЛУЧЕНИИ НАНОЧАСТИЦ СЕРЕБРА МЕТОДОМ ХИМИЧЕСКОГО ВОССТАНОВЛЕНИЯ

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0024
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view37
4

СПОСОБ ГЕРМЕТИЗАЦИИ ДАТЧИКОВ ТЕМПЕРАТУРЫ С НАНОКЛАСТЕРАМИ НИКЕЛЯ

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0021
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view36
5

ВЛИЯНИЕ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ВОЛН НА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-ФОТОПРИЕМНИКОВ

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0023
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view35
6

ВЛИЯНИЕ ПРИМЕСЕЙ ТУГОПЛАВКИХ ЭЛЕМЕНТОВ НА НЕЭФФЕКТИВНОСТЬ ПЕРЕНОСА ЗАРЯДА В ПРИБОРАХ С ЗАРЯДОВОЙ СВЯЗЬЮ

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0020
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view31
7

ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕСВОЙСТВАМНОГОСЛОЙНЫХФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХСТРУКТУРСБАРЬЕРАМИМЕТАЛЛ-ПОЛУПРОВОДНИК

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0005
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view38
8

ОСОБЕННОСТИ ДИФФУЗИИ В ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКЕ CoSi2, ВЫРАЩЕННОЙ НА ПОВЕРХНОСТИ ФЛЮОРИТА

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0025
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view36
9

ВЛИЯНИЕ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ РОДИЯ И ИРИДИЯ НА ЕМКОСТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Si-SiО2 СТРУКТУР

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0019
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view40
10

ВЛИЯНИЕ - ОБЛУЧЕНИЯ НА ГОЛОГРАФИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ХАЛЬКОГЕНИДНЫХ СТЕКЛООБРАЗНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ (ХСП) ПЛЕНОК

Semiconductor Physics and Microelectronics
ROI: https://eroi.uz/11.0066/A1219-0027
DOI:Not Available
calendar7 Dekabr 2019
view33